تست SEM دانشگاه صنعتی شریف
آنالیز SEM، تست SEM میکروسکوپ الکترونی روبشی (Scanning Electron Microscopy) با تولید یک باریکۀ الکترونی و تاباندن آن به سطح نمونه و روبش کردن اشعه­‌های بازگشتی می­تواند اطلاعات مختلفی از لایه‌­های سطحی ماده به دست دهد. این اطلاعات بسته به آشکارسازهای متصل به دستگاه در رده‌­های متفاوتی قابل استفاده است. میکروسکوپ موجود در این آزمایشگاه قابلیت تصویرگیری از توپوگرافی و ساختار عنصری سطح و همچنین بررسی کمی ساختار شیمیایی سطحی را دارد.
بزرگنمایی، مقیاس (Scale) و تعداد تصاویر برای هر نمونه باید در فرم درخواست قید شود. همچنین نمونه‌های FESEM باید کاملاً خشک و فاقد هرگونه روغن و آلودگی قابل تبخیر در خلأ باشند. در صورت محلول بودن نمونه‌ها، فقط نمونه‌های حاوی اتانول و متانول و یا استون قابل پذیرش می‌باشند. آماده‌سازی نمونه‌های سطح مقطع (Cross-Section) شامل برش با الماس و یا شکستن آنها در نیتروژن مایع، بر عهده متقاضی می‌باشد.

تست SEM

آنالیز FESEM دانشگاه شریف

آزمون FESEM (آزمون میکروسکوپ الکترونی روبشی) 


آزمایشگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی مقیم (FESEM)

وضعیت دستگاه: فعال و آماده خدمت

TESCAN (MIRA 3 LMU)

دارای ISO 17025

شناسایی عناصر با عدد اتمی بزرگتر از 4 در جدول تناوبی و بیش از 0.1 % وزنی
تصویربرداری از توپوگرافی و مورفولوژی سطحی نمونه و شناسایی عناصر آن با استفاده از آشکارساز EDS نصب‌شده بر روی دستگاه
مورفولوژی و توپوگرافی سطح و سطح مقطع (Cross-Section) نمونه تا بزرگنمایی یک میلیون برابر (آشکارساز الکترونی ثانویه SE) - توزیع فازی از منظر عدد اتمی (آشکارساز الکترونی ثانویه پراکنده‌شده BSE) - آنالیز کمی عنصری به‌صورت نقطه‌ای و نقشه دوبعدی با آشکارساز پاشندگی انرژی اشعه ایکس EDS

[ اطلاعات تماس کارشناسان ]
مریم گل‌آبادی
maryamgolabady@yahoo.com
(6248 - 6247) 6246 6616 - 021 داخلی 107
وحید شجاعی
shojaeevahid20@gmail.com
(6248 - 6247) 6246 6616 - 021 داخلی 105
ساعات پاسخگویی
12 الی 14 روزهای کاری
fesem.sharif@gmail.com